物性試験・薄膜作成等機器

熱間樹脂埋機

料金: 熱間埋込機（樹脂の包埋）／1時間／1,210円
用途: 試料固定のための樹脂包埋

蛍光エックス線膜厚計

料金: 蛍光エックス線膜厚計／1時間／1,870円
用途: 各種金属のめっき膜厚測定

微小蛍光エックス線分析装置

料金: 微小蛍光エックス線分析装置／1時間／3,520円
用途: 材料中の微小部に含まれる元素の定性・定量分析
異物の定性分析(無機物)

ＡＡＳ－ＩＣＰ分析システム

料金

ICP発光分析装置／1時間／6,050 円

原子吸光分析装置／1時間／4,400円

用途

溶液中の金属元素等の定性分析・定量分析

マイクロ波加熱分解装置

料金: マイクロ波加熱分解装置／1時間／2,640円
用途: 化学分析機器での定量測定のための試料前処理に用います。
（溶液中の元素の定量分析の前処理として，固体試料の溶液化を行います。）

赤外分光光度計

料金: 赤外分光光度計／1時間／3,520円
用途: 赤外スペクトルの測定
有機物（プラスチック等）の同定や構造解析

ドラフトチャンバー

料金: ドラフトチャンバー／1時間／1,650円
用途: 酸、アルカリ、過塩素酸等による金属の分解処理、有機化合物の合成処理等における局所排気装置

三次元測定機

料金: 三次元測定機／1時間／2,860円
用途: 測定点の空間座標を読み取り、コンピュータによる演算処理を行うことで、寸法、角度、真円度、平面度などを測定します。

三次元測定機制御装置

料金: 三次元測定機／1時間／2,860円
用途: 本機器は三次元測定機を操作するための制御装置となります。三次元測定機の仕様や用途については三次元測定機のページをご覧ください。

金属顕微鏡（組織解析機能付き）

料金: 金属顕微鏡（組織解析機能付）／1時間／1,650円
用途: 金属組織の撮影や解析が行える顕微鏡です。ISOやENなどの国際規格に合わせた結晶粒径測定，鋳鉄解析，非鉄介在物測定が行えます。

カーボンコーター（カーボンコーティング）

料金: カーボンコーター(カーボンコーティング)／1時間／880円
用途: 走査型電子顕微鏡（SEM）や電子線マイクロアナライザ(EPMA)の観察試料表面にカーボンをコーティングする。

スパッタリング装置

料金: スパッタリング装置／1時間／2,420円
用途: ガラス基板等への機能性薄膜の形成

雰囲気中液体急冷装置（アモルファス合金製造）

料金: 雰囲気中液体急冷装置(アモルファス合金製造)／1時間／3,080円
用途: アーク溶解による合金の作製及び液体急冷凝固による合金薄帯の作製

走査型電子顕微鏡

料金: 走査型電子顕微鏡／1時間／3,520円
用途: 試料表面形状の拡大観察

モノクロメーター付キセノンランプ

料金: モノクロメーター付キセノンランプ／1時間／1,320円
用途: 全光及び任意の波長に分光した光を照射し、光応答性評価を行う

粒度分布測定装置

料金: 粒度分布測定装置／1時間／1,650円
用途: 溶液内に分散する粒子(微生物・タンパク質凝集体・研磨剤・トナー・顔料など)の粒子径分布を測定

走査型プローブ顕微鏡

料金: 走査型プローブ顕微鏡／1時間／6,160円
用途: 高温・低温環境下等における表面形状観察・表面物性測定

試料研磨機

料金: 試料研磨機／1時間／1,210円
用途: 主に金属組織試験や走査型電子顕微鏡（SEM）等の試料研磨

放電プラズマ焼結装置

料金: 放電プラズマ焼結装置／1時間／3,630円
用途: 放電プラズマ焼結法により、従来の焼結方法に比べ、低温・短時間でのスピード焼結が可能。超硬合金、セラミックス、複合材料、傾斜機能材料などの焼結が可能。

ラマン分光分析装置

料金: ラマン分光分析装置／1時間／2,530円
用途: 炭素系材料の物性評価

表面粗さ輪郭形状測定機

料金: 表面粗さ輪郭形状測定機／1時間／2,090円
用途: 表面の微細形状(表面粗さやうねりなど)を高精度に測定できます。
また、レンズなどの輪郭形状の測定にも対応可能です。
表面粗さ管理の用途一例：金型、工作機械の主軸・ヘッド、シリコンウエハ表面、ガラス表面など

炭素硫黄分析装置

料金: 炭素硫黄分析装置／1時間／2,760円
用途: 金属や鉱石、セラミック等材料中の炭素及び硫黄成分について、高周波炉を用いた赤外線検出器により分析

エックス線残留応力測定装置

料金: エックス線残留応力測定装置／1時間／3,410円
用途: 材料や製品の残留応力測定

レーザー顕微鏡

料金: レーザー顕微鏡／1時間／2,090円
用途: 材料等表面の非接触による性状評価

イオンミリング装置

料金: イオンミリング装置／1時間／2,530円
用途: SEM・TEM・EBSD分析のための試料断面・平面の作成
機械研磨の最終仕上げ

分光光度計

料金: 分光光度計／1時間／2,970円
用途: 固体試料の透過率および反射率、液体試料の吸収度を測定することにより、材料および物質の特性を評価する装置です。

卓上SEM

料金: 卓上SEM／1時間／2,860円
用途: 試料表面形状の拡大観察
元素分析（点・線・面分析）

デジタルマイクロスコープ

料金: デジタルマイクロスコープ／1時間／770円
用途: プリント基板実装部品や機械部品等の表面観察

真円度測定機

料金: 真円度測定機／1時間／2,310円
用途: 真円度、円筒度などの幾何公差を測定する装置

画像測定機

料金: 画像測定機／1時間／1,870円
用途: 製品や部品の２次元寸法の測定

マニピュレータマイクロスコープ

料金
用途: 分析対象の試料に対して表面付着物の単離・微小ホール内の異物掻き出し・埋没物の表面出し等の前処理を行う。

設備使用一覧

機器区分リスト