目的別区分リスト
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材料の成分を分析したい
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微小蛍光エックス線分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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微小蛍光エックス線分析装置／1時間／3,520円
- 用途
- 材料中の微小部に含まれる元素の定性・定量分析
異物の定性分析(無機物)
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ＡＡＳ－ＩＣＰ分析システム
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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ICP発光分析装置／1時間／6,050 円
原子吸光分析装置／1時間／4,400円
- 用途
- 溶液中の金属元素等の定性分析・定量分析
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赤外分光光度計
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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赤外分光光度計／1時間／3,520円
- 用途
- 赤外スペクトルの測定
有機物（プラスチック等）の同定や構造解析
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走査型電子顕微鏡
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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走査型電子顕微鏡／1時間／3,520円
- 用途
- 試料表面形状の拡大観察
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ラマン分光分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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ラマン分光分析装置／1時間／2,530円
- 用途
- 炭素系材料の物性評価
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炭素硫黄分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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炭素硫黄分析装置／1時間／2,760円
- 用途
- 金属や鉱石、セラミック等材料中の炭素及び硫黄成分について、高周波炉を用いた赤外線検出器により分析
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卓上SEM
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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卓上SEM／1時間／2,860円
- 用途
- 試料表面形状の拡大観察
元素分析（点・線・面分析）
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電子顕微鏡
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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電子顕微鏡／1時間／1,980円
- 用途
- 試料の表面や断面の拡大観察と観察箇所の写真撮影、元素分析ができます。
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赤外分光光度計
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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赤外分光光度計／1時間／2,640円
- 用途
- 有機物試料に赤外線を照射し、透過（あるいは反射）光を測定する事で得られるスペクトルを解析して、試料の構造を知ることができます。プラスチックや繊維の同定、異物解析に活用できます。
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示差走査熱量計システム
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
- 用途
- 試料と基準物質に一定の熱を加えて、両者の温度差を捉えることで、試料の状態変化や結晶化などの分析
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ヘッドスペースガスクロマトグラフ（一般分析）
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
- 用途
- 食品中の香気成分分析（既知成分）
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エックス線回折装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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エックス線回折装置／1時間／2,640円
- 用途
- 窯業原料や窯業製品中に含まれる鉱物の同定
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蛍光エックス線分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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蛍光エックス線分析装置／1時間／2,090円
- 用途
- 窯業原料や窯業製品の含有元素の確認（定性分析）や、その定量分析
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ガスクロマトグラフ質量分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
- 用途
- 気体試料や固体や液体をガス化させた試料を成分ごとに分離し，質量分析により物質の同定を行います。混合有機物や樹脂のアウトガス、助剤・添加剤等の分析に利用できます。
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自記分光光度計
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
- 用途
- 紫外・可視・近赤外領域の波長における吸光度を測定する装置です。溶液の濃度測定や染料の分析に用いる他、遊離ホルムアルデヒド測定等にも使用します。
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ポータブル蛍光エックス線分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
- 用途
- 材料中に含まれる元素の定性・定量分析
RoHS1に対応した各種材料・部品のスクリーニング分析
めっきの膜厚測定（素地を含めず3層まで対応可能）
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X線光電子分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
- 用途
- 有機・無機材料の表面付着物等の分析、化学結合状態解析