機器区分
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分析
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ＡＡＳ－ＩＣＰ分析システム
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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ICP発光分析装置によるもの／1試料・1成分／9,900 円
原子吸光分析によるもの／1試料・1成分／8,030円
- 用途
- 溶液中の金属元素等の定性分析・定量分析
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マイクロ波加熱分解装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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前処理 マイクロ波加熱分解装置によるもの／1試料;6,380／円
- 用途
- 化学分析機器での定量測定のための試料前処理に用います。
（溶液中の元素の定量分析の前処理として，固体試料の溶液化を行います。）
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赤外分光光度計
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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FT-IRによるもの／1試験・1測定／5,060 円
赤外顕微鏡よるもの／1試験・1測定／6,930円
- 用途
- 赤外スペクトルの測定
有機物（プラスチック等）の同定や構造解析
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走査型電子顕微鏡
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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定性分析 電子顕微鏡によるもの／1試験・1箇所(写真1枚付)／8,420 円
金属組織試験 走査型電子顕微鏡によるもの／1試験・1箇所(写真1枚付)／3,200円
- 用途
- 試料表面形状の拡大観察
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ラマン分光分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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定性分析 ラマン分光分析装置によるもの／1試験・1測定／4,300円
- 用途
- 炭素系材料の物性評価
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炭素硫黄分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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定量分析 炭素硫黄分析装置によるもの／1試験・1測定／4,510円
- 用途
- 金属や鉱石、セラミック等材料中の炭素及び硫黄成分について、高周波炉を用いた赤外線検出器により分析
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エックス線回折装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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定性分析 エックス線回折装置によるもの／1試験・1測定／13,200円
- 用途
- 酸化物・金属材料の結晶構造解析、金属材料の残留応力解析、薄膜の膜厚測定等
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微小蛍光エックス線分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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定性分析 微小蛍光エックス線分析装置によるもの(マッピング分析以外のもの)／1試料・1測定／3,960 円
定性分析 微小蛍光エックス線分析装置によるマッピング分析／1試料・1測定／6,600円
- 用途
- 材料中の微小部に含まれる元素の定性・定量分析
異物の定性分析(無機物)
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卓上pHメーター
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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定量分析 pH値測定／1試料／770円
- 用途
- 水溶液中のpH測定
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ポータブル蛍光エックス線分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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定性分析 ポータブル蛍光エックス線分析装置によるもの／1試験・1測定／2,420円
- 用途
- 材料中に含まれる元素の定性・定量分析
RoHS1に対応した各種材料・部品のスクリーニング分析
めっきの膜厚測定（素地を含めず3層まで対応可能）
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X線光電子分析装置
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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定性分析 XPS測定装置による表面分析／1試験・1測定／16,610 円
定性分析 XPS測定装置による表面分析／1試験・1測定(1条件増すごとに)／10,120 円
定性分析 XPS測定装置による深さ方向分析／1試験・1測定／88,560円
- 用途
- 有機・無機材料の表面付着物等の分析，化学結合状態解析
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ダイヤモンドワイヤー切断機
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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前処理 ダイヤモンドワイヤー切断機によるもの／1件／3,410円
- 用途
- セラミックス等の硬くて脆いもの、複合材のように硬さが一様でないもの、変形しやすく割れやすい中空構造サンプルなどを、内部構造を歪める事なく切断する装置。
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マニピュレータマイクロスコープ
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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前処理 マニピュレータマイクロスコープによるもの／1試料／5,610円
- 用途
- 分析対象の試料に対して表面付着物の単離・微小ホール内の異物掻き出し・埋没物の表面出し等の前処理を行う。
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卓上SEM
- 設備使用
- 依頼試験
- 料金
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定性分析 卓上SEMによるもの／1試験・1箇所／3,520 円
金属組織分析 卓上SEMによるもの／1試料・1箇所／2,640円
- 用途
- 試料表面形状の拡大観察
元素分析（点・線・面分析）