試験詳細区分

微小蛍光エックス線分析装置

用途

材料中の微小部に含まれる元素の定性・定量分析
RoHS指令に対応した各種材料・部品のスクリーニング分析（対象：Pb、Hg、Cd、全Cr、全Br）

赤外分光光度計

用途

赤外スペクトルの測定
有機物（プラスチック等）の同定や構造解析

走査型電子顕微鏡

用途

試料表面形状の拡大観察

ラマン分光分析装置

用途

炭素系材料の物性評価

エックス線回折装置

用途

酸化物・金属材料の結晶構造解析、金属材料の残留応力解析、薄膜の膜厚測定等

ポータブル蛍光エックス線分析装置

用途

材料中に含まれる元素の定性・定量分析
RoHS1に対応した各種材料・部品のスクリーニング分析
めっきの膜厚測定（素地を含めず3層まで対応可能）

X線光電子分析装置

用途

有機・無機材料の表面付着物等の分析，化学結合状態解析

卓上SEM

用途

試料表面形状の拡大観察
元素分析（点・線・面分析）